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根據國家市場監督管理總局下達的國家計量技術規范制修訂計劃，全國幾何量長度計量技術委員會已完成《測長儀校準規范》的征求意見稿。為使國家計量技術規范能廣泛適用和更具可操作性，現向全國有關單位及專家公開征求意見和建議。意見反饋郵箱mtc2@nim.ac.cn，ycdywxf@163.com，截止時間2024年5月20日前。
測長儀是用于測量量塊、光滑極限量規、標準環規、螺紋量規等標準及零部件端度尺寸的幾何量精密測量儀器，由于其操作相對便捷、準確度較高、配合數字化數據處理系統等特點，廣泛應用于計量技術機構的量值傳遞和精密測量以及機械產品生產的各個質量檢驗環節。該類儀器早期均為光學機械式，隨著光柵技術和數據處理方式的廣泛應用，出現了數顯測長儀，儀器的功能、計量特性出現了較大變化。在結構及原理上，測長儀采用了阿貝原理或光柵補償或激光等技術方法，使其誤差可控制在(±0.5～±2)μm，新型數顯測長儀采用數據補償后，其誤差最高可達±0.10μm。
現行的JJF1189-2008《測長儀校準規范》，已頒布實施了十多年,在規范測長儀(含數顯類)校準方法、保障量值溯源方面起到很大作用。近十多年來，數顯測長儀的保有量劇增,本次修訂將考慮到測長儀的多種結構型式，新增圖例，新增細分示值誤差和Z軸(垂向)示值誤差等計量特性：因為在微小尺寸的比較測量中，數顯測長儀的細分誤差會影響測量結果，帶來測量結果的偏離；部分測長儀為了滿足螺紋環規的測量采用T形測頭結構，T形測頭在Z軸(垂向)的示值誤差會影響中徑測量值，也需要進行控制。并將修訂原規范中的一些術語、對示值重復性校準方法、測量不確定度示例等內容進行修訂。
JJF1071-2010《國家計量校準規范編寫規則》、JJF 1001—2011《通用計量術語及定義》、JJF 1059.1-2012《測量不確定度評定與表示》共同構成支撐本校準規范制定的基礎性系列規范。
JJF1189-xxxx《測長儀校準規范》是針對符合阿貝原則和示值誤差采用軟件修正的測長儀校準制定的計量技術規范。與JJF 1189-2008《測長儀校準規范》相比，除編輯性修改外主要技術變化如下：
——增加了引言；
——增加了細分誤差的要求與校準方法；
——增加了Z(Y)軸示值誤差的要求和校準方法；
——修改了測量重復性的校準方法；
——修改了“測長儀示值誤差測量結果不確定度評定”。
按照《JJF 1071—2010國家計量校準規范編寫規則》的要求制定測長儀校準規范。在內容與格式上保持一致，校準規范的具體內容有引言、范圍、引用文獻、概述、計量特性、校準條件、校準項目和校準方法、校準結果的表達、復校時間間隔。
校準環境條件：
環境溫度一般控制在(20±2)℃以內，或按照相關技術要求的規定。
主要標準器及配套設備：
校準結果：
經校準的測長儀發給校準證書。校準證書應給出各校準項目的測量結果及示值誤差測量結果的擴展不確定度。
當用戶要求時，可以根據用戶提供的計量特性最大允許誤差進行符合性判定，將結論列入校準證書。進行符合性判定應考慮測量結果的擴展不確定度。
復校時間間隔：
由于復校時間間隔的長短是由儀器的使用情況﹑使用者﹑儀器本身質量等諸因素所決定的，因此，送校單位可根據實際使用情況自主決定復校時間間隔，一般建議為1年。
本規范適用于光學機械式和數顯式測長儀的校準。(更多內容詳情請見附件)
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