詳細摘要: 德國菲希爾XAN250高性能X射線熒光法測量儀配有的硅漂移探測器(SDD),可快速、無損地進行RoHS檢測、材料分析和鍍層厚度測量。訂購咨詢
產品型號:所在地:上海市更新時間:2025-03-31 在線留言上海恰森儀器有限公司
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